芯片封測(cè)彈片是在芯片完成整個(gè)封裝過(guò)之后,封裝廠商就會(huì)對(duì)芯片產(chǎn)品進(jìn)行質(zhì)量和可靠性進(jìn)行檢測(cè)看是否符合客戶標(biāo)準(zhǔn)。質(zhì)量檢測(cè)主要檢測(cè)封裝后芯片的可用性以及封裝后的質(zhì)量和性能情況,而可靠性則是對(duì)封裝的可靠性相關(guān)參數(shù)的測(cè)試,這時(shí)候就會(huì)用到封測(cè)彈片。
由于在芯片封測(cè)中彈片需要頻繁的工作,所有封測(cè)廠對(duì)芯片封測(cè)彈片生產(chǎn)有一定的要求。彈片壽命: 20萬(wàn)次;耐插拔力次數(shù): 1萬(wàn)次以上;正位度: 0.05mmMax;垂直度: 0.05mmMax;直線度: 10mm基準(zhǔn),0.05mmMax。
芯片封測(cè)彈片是需要高壽命的,我們可以從原材料上選擇合適的材料,也可以用表面處理的方式來(lái)增加工件的壽命。